TE/FE测试

2.4 TE/FE测试

　　TE/FE：此功能是专门用以检测空白盘片品质的。FE的全称是Focus Error ，即为聚焦错误。它表示激光停留在空白光盘的记录层上进行聚焦的能力。也可以说是激光对于盘面振动的焦距误差，其曲线应当相对平滑。如果FE的曲线变化很大，则说明光头移动到盘片的外圈时难以保持稳定的聚焦，一般可以看作该空白光盘的品质是很糟糕的。

　　TE的全称是Tracking Error，即为寻轨错误。它表示激光对空白光盘上的螺旋轨道路径（凹槽）及其所包含的同步信息进行跟踪的能力。其曲线应当相对平滑，这样就表示激光头很容易对该光盘的轨道进行精密的跟踪。

TE/FE 测试图

　　如果TE/FE的测试曲线数值很高，就极有可能发生写入错误。在这种情况下，应当采取低速刻录的策略。换句话说，TE/FE出错的程度越小代表光盘的品质越好，同时在保证数据有效的情况下，可以使用的刻录速度更高。